高低溫試驗箱技術(shù)規(guī)格：

溫度對試件的影響
溫度相關(guān)試驗是環(huán)境試驗入門，包括高溫試驗、低溫試驗、溫度變化試驗。高低溫試驗主要驗證產(chǎn)品在極值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響，是否可以正常運(yùn)作。溫度變化試驗主要測試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度極值的耐受力。
 
高溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
a. 填充物和密封條軟化或融化；
b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減?。?br />c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等；
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
 
低溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
 a. 使材料發(fā)硬變脆；
 b. 潤滑劑粘度增加，流動能力降低，潤滑作用減??；
 c. 電子元器件性能發(fā)生變化；
 d. 水冷凝結(jié)冰；
 e. 密封件失效；
 f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
 
溫度變化條件下試件的失效模式
 產(chǎn)品所使用零件、材料在溫度劇烈變化時可能發(fā)生機(jī)械故障、開裂、密封損壞、泄漏等現(xiàn)象。
溫度劇烈變化對設(shè)備的主要影響有：
a. 使部件裝配點或焊接點松動或脫落；
b. 使材料本身開裂；
c. 電子元器件性能發(fā)生變化；
d. 密封件失效造成泄漏；
 
非散熱試件和散熱試件
試件內(nèi)不產(chǎn)生熱量的為非散熱試件。在實驗室可以采用以下較嚴(yán)格的定義：在沒有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓（86－106kPa）下，試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗樣品表面熱點溫度與環(huán)境溫度之差小于5℃的試驗樣品。
若環(huán)境溫度不變時，非散熱試件的熱流方向如下：在環(huán)境溫度較高時，熱由環(huán)境大氣傳入試件；反之，熱由試件傳入周圍大氣。熱傳輸過程將不斷進(jìn)行直至試件各部分的溫度均達(dá)到周圍大氣溫度為止。此后熱傳輸過程停止。非散熱試件的后穩(wěn)定溫度是放置試驗樣品試驗箱的平均溫度。
 試件內(nèi)有熱量產(chǎn)生為散熱試件。較嚴(yán)格的定義為在沒有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓（86－106kPa）下，試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗樣品表面熱點溫度與環(huán)境溫度之差大于5℃的試驗樣品。
散熱試件產(chǎn)生的熱量不斷向周圍環(huán)境大氣發(fā)散，直至試件產(chǎn)生的熱量與耗散在周圍大氣中的熱量相平衡，試件溫度達(dá)到穩(wěn)定。當(dāng)環(huán)境溫度上升或下降時，試件內(nèi)部的溫度也將隨著一同上升或下降，直至達(dá)到新的平衡。散熱試件的后穩(wěn)定溫度需要進(jìn)行反復(fù)測量，當(dāng)試件的溫度每變化3℃后測量其間的時間間隔，當(dāng)相鄰兩段時間間隔之比大于1.7時，認(rèn)為已達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。
 
產(chǎn)品
對于目前的產(chǎn)品來說，在未工作狀態(tài)產(chǎn)品本身不產(chǎn)生熱量，因此在試件未工作狀態(tài)進(jìn)行的溫度試驗都可作為非散熱試件來處理。在工作狀態(tài)進(jìn)行溫度試驗的產(chǎn)品目前主要有燃油泵，點火線圈，怠速調(diào)節(jié)器等。這些產(chǎn)品如在工作條件下進(jìn)行溫度試驗都應(yīng)作為散熱試件。特別是點火線圈，工作時的發(fā)熱量較大，應(yīng)對其上的溫度進(jìn)行監(jiān)測。
 
試驗區(qū)域空氣速度的影響
試驗區(qū)域中空氣和試驗樣品間的熱交換效率取決于空氣流動的速度。
對于非散熱試件，較高的空氣流動速度可以使試件各部分的溫度較快速的達(dá)到周圍空氣的溫度。一般在試驗區(qū)域未擺放試件的情況下，空氣流動速度應(yīng)不低于2m/s。
對于散熱試件，試件樣品熱點的溫度高于周圍環(huán)境溫度時，應(yīng)在無強(qiáng)迫空氣流動（自由空氣條件）的環(huán)境下進(jìn)行試驗，否則試件的溫度將被降低，從而減小試驗的嚴(yán)酷程度。
 
試驗區(qū)域中試件的擺放
多個樣品在同一試驗箱進(jìn)行高溫實驗時，應(yīng)保證所有樣品都處在同一環(huán)境溫度下，并具有相同的安裝條件。對于散熱樣品而言，各個試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件，即試件間間隔應(yīng)足夠大，這樣對于單個試件來說，其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小，到可忽略的程度。對于非散熱試件，溫度保持不變的高溫或低溫試驗，試件間的間距可以不做要求，因為溫度恒定后試件的溫度與溫度試驗箱內(nèi)的溫度保持一致，不發(fā)生熱量交換，試件間的間距對試驗不會產(chǎn)生影響。非散熱試件的溫度變化試驗試件間則應(yīng)該保持間隔，使試驗件之間有足夠的空氣流動，加速試件與溫度試驗箱之間的熱交換，使試件盡快達(dá)到試驗的溫度。
 
試驗持續(xù)的時間的確定
在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。 這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中，以便進(jìn)行加速試驗，這也被稱為阿侖尼斯方程。
阿侖尼斯關(guān)系從數(shù)學(xué)上的表示為：   
AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實際– 1/T試驗室)
式中數(shù)值：
AF= 加速度系數(shù)
Ea=激活能
K=玻爾茲曼常數(shù)(8.65×10-5ev/K) 
T實際=在實際負(fù)荷下的溫度(溫度)
T實驗室=在實驗室負(fù)荷下的溫度(溫度) 
為確定加速度系數(shù)激活能必須是已知的，對于一般的電子元件經(jīng)常采用的值是： Ea=0.44Ev 
( 在產(chǎn)品不工作時進(jìn)行的低溫或高溫實驗，試驗的持續(xù)時間為試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，根據(jù)試驗樣品的特點和試驗?zāi)康拇_定。也可從下列等級中選?。?，16，72，96h。 t = t穩(wěn)定+ to (to由計算產(chǎn)生或=2，16，72，96h) 。